美國easyXAFS公司推出臺式X射線吸收精細結構譜儀，采用的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規(guī)實驗室環(huán)境中實現(xiàn)X射線吸收精細結構測量和分析，以超高靈敏度和光源質(zhì)量，實現(xiàn)對元素的測定、價態(tài)和配位結構分析等。此外，該設備還能夠進行X射線發(fā)射譜測試(XES)，該表征本質(zhì)上是超高能量分辨率的X射線熒光光譜(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以對樣品的局部電子結構實現(xiàn)信息互補。廣泛應用于電池、催化劑、環(huán)境、放射性化學、地質(zhì)、陶瓷等研究領域。
XAFS/XES 設備特點
- 無需同步輻射光源
- 科研級別譜圖效果
- 臺式設計，實驗室內(nèi)使用
- 可外接儀器設備，控制樣品條件
- 可實現(xiàn)多個樣品或多種條件測試
- 操作便捷、維護成本低
